Наверх

Вы не зарегистрированы. Поэтому авторизуйтесь или укажите E-mail адрес, на который хотите получить уведомление о поступлении товара в продажу.

Внимание! Уведомление о поступлении товара будет отправлено Вам один раз.

Основы стандартизации, метрологии, сертификации: конспект лекций. - 2 -е изд., испр. и доп.
Отложить на потом

Основы стандартизации, метрологии, сертификации: конспект лекций. - 2 -е изд., испр. и доп.

Автор: Михаил Иванович Басаков

Нет в продаже


Серия: Зачет и экзамен

Издательство: Феникс (2005 г.)

Мягкая обложка, 192 стр.

ISBN: 5-222-07394-7

Тираж: 4000 экз.

Размер: 84x108/32 (130х200 мм)

Вес: 300 гр.

Поискать похожие книги
Другие издания этой книги

Внимание!
Сроки комплектации временно увеличены!
Краткое описание

Основы стандартизации, метрологии, сертификации: конспект лекций. - 2 -е изд., испр. и доп.

В пособии излагаются ответы на распространенные вопросы, связанные с основами технического регулирования, стандартизации, метрологии и подтверждения соответствия, которые встречаются при проведении зачетов и экзаменов по дисциплине «Основы стандартизации, метрологии, сертификации». В сжатом виде ответы на вопросы отражают современное состояние названных отраслей знания в свете Федерального закона «О техническом регулировании» № 184-ФЗ.Пособие рассчитано на студентов экономических вузов и колледжей, может представить интерес для аспирантов и преподавателей.

Внешний вид товара Основы стандартизации, метрологии, сертификации: конспект лекций. - 2 -е изд., испр. и доп. может отличаться от изображения товара на сайте!

Лидеры продаж
Отзывы (Ваш отзыв будет первым)

Ваше мнение очень интересно, но чтобы оставить свой отзыв, пожалуйста, зарегистрируйтесь